德国柯雷技术有限公司的新一代辐射仪X（β）射线泄露检测仪R750，打破了传统仪表的操作系统和使用界面的风格，开发了一套革命性的工业手持表智能操作系统，这给柯雷的用户带来了一个全新的体验。R750采用3.2英寸全屏彩色触摸屏，能量响应15keV - 3MeV,在传统辐射仪的基础功能上新增本底移除功能，该检测仪分辨率高，对X射线的响应时间小于50毫秒，可快速检测出各种X光机的周围的X射线的泄露值，提供大容量数据存储及数据阅读功能，通过上位机软件可将数据上传到电脑保存并分析。R750另外一个特点是不但能检测剂量当量率（Sv/h），还可以检测吸收剂量率（Gy/h），是为数不多的能在同一台仪器中实现此功能的产品。

 

X（β）射线泄露检测仪R750采用清晰大屏幕显示器，不仅可以显示实时值、值、最小值和报警阈值等，同时还可通过时域波形图展示射线的剂量率变化情况，仪器自动进行剂量率累计。产品有欧洲CE、US FCC认证和ISO9001质量认证。
产品应用

• 医用X光机设备周围和外墙的X射线泄露状况
• 安检X光机周围的X射线泄露状况
• 工业X光机周围的X射线泄露状况
• 周围环境辐射剂量

产品特点

• 3.2英寸全屏彩色触摸屏。
• 智能操作系统。
• 有本底移除功能，快速准确测出X射线的泄露值。
• 大屏幕可同时显示时间，实时值，值、最小值，报警阈值，%等。
• 能量响应15keV - 3MeV。
• 时间响应小于50毫秒，大幅度降低工作人员所受的辐射伤害。
• 提供大容量数据存储及数据阅读功能。
• 通过上位机软件可将测量数据上传至电脑保存并分析。
• 可测量剂量当量率（Sv/h）和吸收剂量率（Gy/h），自动进行剂量率累计。

技术参数

传感器	闪烁体探测器
量程	剂量当量率范围：0.01~200μSv/h 吸收剂量率范围：0.01~150μGy/h
响应时间	50毫秒
能量响应	15keV-3MeV(±30%)
显示面板	3.2英寸全屏彩色触摸LCD显示屏
本底移除	自动设置为当前值或手动设置
操作系统	智能操作系统和显示界面
主机工作温度	-10oC  至 +60oC
主机储存温度	-20oC  至 +70oC
尺寸	238mm x 95mm x 42mm
重量	600g
通信接口	USB